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Microscopía Electrónica de Barrido (MEB)

Parque Científico-Tecnológico

Actualizado el 18/03/2013


FEDER


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FUNDAMENTO

El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope), es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. También produce imágenes de alta resolución, que significa que características espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil pues la mayoría de SEMs sólo requieren que estas sean conductoras.

En el microscopio electrónico de barrido la muestra generalmente es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra. Posteriormente es barrida con los electrones acelerados que viajan a través del cañón. Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones, proyectados en una imagen de TV o una imagen digital. Su resolución está entre 4 y 20 nm, dependiendo del microscopio. Inventado en 1931 por Ernst Ruska, permite una aproximación profunda al mundo atómico. Permite obtener imágenes de gran resolución en materiales pétreos, metálicos y orgánicos. La luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie.

EQUIPAMIENTO

Microsopio electrónico de Barrido JEOL JSM-6460LV con sistema INCA de análisis elemental por Rayos X.

El sistema INCA permite, mediante un detector de Rayos X, obtener la composición elemental de la muestra observada.

Este equipo permite obtener fotografías por sistema de microscopía electrónica a alto vacío de hasta 300.000 aumentos. Dispone de un sistema de bajo vacío que permite obtener imágenes de muestras poco o no conductoras.

CAMPO DE APLICACIÓN

Fotografiado de muestras a alta resolución.

Análisis de composición química elemetal.




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