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Difracción de Rayos X de Monocristal (DRX-M)

Parque Científico-Tecnológico

Actualizado el 18/03/2013


  FEDER

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FUNDAMENTO

Desde su descubrimiento en 1912 por Von Laue, la difracción de rayos-X ha proporcionado importante información a la ciencia y a la industria. Mucho de lo que se conoce acerca de la disposición en el espacio de los átomos en materiales cristalinos se ha deducido directamente de los estudios de difracción.

Actualmente, el trabajo de difracción de rayos-X es de principal importancia para la elucidación de las estructuras de productos naturales tan complejos como esteroides, vitaminas y antibióticos.

EQUIPAMIENTO

El equipo del que disponemos es: Difractómetro de Rayos X de monocristal BRUKER SMART APEX CCD

El sistema incluye:

  • Detector de área SMART APEX CCD
    - ganancia de 91 electrones por fotón de rayos-X
    - rango dinámico de 20 bits
    - área de detección activa 62 mm × 62 mm
    - resolución píxel a píxel 15 ¼m

  • Goniómetro D8
    - Goniómetro de alta precisión de tres ejes con motores independientes
    - Brazo para el detector designado para distancias variables muestra-detector de 2,5 a 25 cm
    - Sensores de colisión

  • Monocromador de grafito

  • Obturador rotatorio

  • Cámara de video con zoom

  • Generador de rayos X Kristalloflex K760-80
    - potencia máxima 3000 Watt
    - alto voltaje 10-60 kV
    - intensidad 2-80 mA

  • Tubo de difracción de rayos X KFN-Mo-2K-90

El software del equipo:
- SMART
- COSMO/ASTRO
- SAINT+
- SADABS
- RLATT
- GEMINI
- SHELXTL: que incluye XPREP, XM, XS, XPS, XSHELL, XL, XP, XPRO, XWAT, XCIF.

CAMPO DE APLICACIÓN

Determinación de estructuras cristalinas de Materiales Monocristalinos en un amplio rango de tamaños, hasta 150 Å de eje de celda en promedio.

Resolución Estructural Completa de una Estructura de Tamaño Medio ( hasta 50 átomos en la Unidad Asimétrica) incluyendo:

· Selección y montaje del cristal.
· Estudios previos de simetría.
· Recogida de datos.
· Resolución estructural.
· Análisis de los resultados.

 


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