La espectroscopia Raman es una técnica fotónica de alta resolución que proporciona en pocos segundos información química y estructrural de casi cualquier material o compuesto orgánico y/o inorgánico permitiendo así su identificación. El análisis mediante espectroscopía Raman se basa en el examen de la luz dispersada por un material al incidir sobre él un haz de luz monocromático (radiación láser).
Es una valiosa técnica de caracterización de materiales que posee las siguientes ventajas sobre otras técnicas:
- El análisis se realiza directamente sobre la muestra, sin tratamientos previos e insitu.
- Es una técnica no destructiva.
- Se pueden analizar diferentes fases (de tamaño micrométrico) en un material.
- Al ser el efecto Raman poco sensible a las moléculas de agua, se pueden caracterizar muestras altamente hidratadas.
- Microscopio Raman Confocal- Microscopio Fuerza Atómica (AFM) modelo Alpha300R – Alpha300A AFM Witec.
- Microscopio invertido (Alpha300 M/R).
- Plataforma motorizada x-y-sample scanning.
- Mesa piezoeléctrica (precisión <1 nm en dirección x e y y <0.2 nm en la dirección z).
- Espaciador para muestras de más de 10 cm de altura.
- Fuentes de excitación: láseres de 532 nm, 633 nm, 785 nm.
- Objetivos: 10x (NA 0.25), 20x (NA 0.5 y 0.4), 50x (NA 0.55 y 0.8), 60x (NA 0.8), 100 x (NA 0.9).
- Controlador de temperatura (medidas entre temperatura ambiente y 200 ºC).
- Extensión para Raman y AFM en la misma posición (TERS-ready) com precisión.
El equipo combina las potencialidades de un Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM), con las potencialidades para la caracterización composicional y estructural de materiales a escala submicrométrica que permite la Espectroscopia Raman Confocal.
El equipo permite una identificación molecular y caracterización estructural no destructiva de materiales. La espectroscopía Raman es aplicable a todo tipo de muestras, tanto sólidas como líquidas y disoluciones acuosas.
Permite analizar zonas concretas de muestras sólidas con una elevada resolución lateral (del orden de micras). Posibilidad de realizar tanto medidas puntuales, como análisis de superficies por imagen Raman.
El control de la confocalidad, permite seleccionar el plano focal de adquisición de la señal Raman procedente de zonas muy concretas de la muestra sin la contribución del entorno, aumentando así la resolución lateral con respecto a un microscopio convencional.
Equipo mixto que puede funcionar asociado a nuestro Microscopio de AFM y que permite la adquisición de RAMAN mediante el efecto TERS de las puntas del AFM.
Pedidos de ensayos desde la plataforma INFRARED
