El AFM es una técnica de medida superficial que se basa en la interacción de una punta con la superficie de la muestra. Esta técnica permite el análisis superficial de muestras con resolución nanométrica o incluso atómica. Como principal ventaja tiene la posibilidad de hacer medidas sin ningún tratamiento previo de la muestra a medir, y sin la necesidad de emplear vacío.
- Microscopio Raman Confocal- Microscopio Fuerza Atómica (AFM) modelo Alpha300R – Alpha300A AFM Witec.
- Microscopio invertido (Alpha300 M/R).
- Plataforma motorizada x-y-sample scanning.
- Mesa piezoeléctrica (precisión <1 nm en dirección x e y y <0.2 nm en la dirección z).
- Espaciador para muestras de más de 10 cm de altura.
- Fuentes de excitación: láseres de 532 nm, 633 nm, 785 nm.
- Objetivos: 10x (NA 0.25), 20x (NA 0.5 y 0.4), 50x (NA 0.55 y 0.8), 60x (NA 0.8), 100 x (NA 0.9).
- Controlador de temperatura (medidas entre temperatura ambiente y 200 ºC).
- Extensión para Raman y AFM en la misma posición (TERS-ready) com precisión.
El equipo combina las potencialidades de un Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM), con las potencialidades para la caracterización composicional y estructural de materiales a escala submicrométrica que permite la Espectroscopia Raman Confocal.
En Microscopía de Fuerza Atómica se puede trabajar en los siguientes modos:
1. Topografía en modo contacto, en aire y en líquido (medidas de rugosidad superficial, altura de capas, escalones, terrazas o la forma o distribución de objetos en la superficie)
2. Topografía en modo tapping, en aire y en líquido, con la correspondiente imagen de fase (medidas del contraste composicional de diferentes materiales).
3. Medidas mecánicas, tanto en contacto como en tapping, y en aire o en líquidos (obtención de curvas deflexión-desplazamiento).
4. Medidas de potencial de superficie que permite detectar la presencia de cargas en la superficie de la muestra.
5. Medidas de fuerzas magnéticas (MFM) que permiten observar dominios magnéticos que no son visibles en el modo topográfico.
6. Medidas de fuerzas eléctricas (EFM) sobre la superficie de la muestra.
7. Medidas de nanoindentación y nanoscratching para obtener información sobre la dureza de una muestra o la adhesión y durabilidad de una película.
Equipo mixto que puede funcionar asociado a nuestro equipo de Microscopía Confocal RAMAN y que permite la adquisición de RAMAN mediante el efecto TERS de las puntas del AFM.
Pedidos de ensayos desde la plataforma INFRARED
