Microscopía Electrónica de Barrido Emisión de Campo (FeSEM)

La microscopía electrónica se fundamenta en la emisión de un barrido de haz de electrones sobre la muestra, los cuales interaccionan con la misma produciendo diferentes tipos de señales que son recogidas por detectores. Finalmente, la información obtenida en los detectores es transformada para dar lugar a una imagen de alta definición, con una resolución de 0,4 a 20 nanómetros. Como conclusión, obtenemos una imagen de alta resolución de la topografía de la superficie de nuestra muestra.

A mediados del mes de octubre se procederá a la instalación de un nuevo equipamiento de microscopía electrónica de emisión de Campo. Las características del equipo son:

Marca y Modelo: ZEISS, FE-SEM GemminiSEM560 de ultra alta resolución con cátodo de emisión de campo tipo Schottky.

Se trata de un sistema con capacidad para llevar a cabo el estudio de los especímenes bajo condiciones controladas de alto vacío en la cámara de muestras. Este equipo incluye también un detector de microanálisis para funcionamiento en bajo voltaje.
Las principales características que incluye este microscopio son:
- Un sistema de detección de rayos-X para bajos voltajes.
- Detectores de electrones secundarios y de electrones retrodispersados, ambos tipos en columna y en cámara de muestras.
- Una cámara de muestras de gran tamaño y multipuerto.
- Precámara para la transferencia rápida de muestras
- Equipamiento auxiliar necesario para su funcionamiento (refrigeración, etc.).

Con esta técnica podemos estudiar distintos tipos de materiales:

• Metales: acero, aluminio, titanio, cobre, metales preciosos, aleaciones.

• Cerámicas: vidrio, hormigón, alumina, zirconia, carburo, piedra, porcelana.

• Polímeros: termoplásticos como PP, PE, Nylon; termoestables como melamina, polimidas; elastómeros como goma, silicona.

• Composites: fibra de carbono, fibra de vidrio, grafito, composites cerámicos, resinas,

• Orgánicas: algodón, madera, bacterias, células,