Microscopía Electrónica de Barrido Emisión de Campo (FeSEM)

Fundamento

La microscopía electrónica se fundamenta en la emisión de un barrido de haz de electrones sobre la muestra, los cuales interaccionan con la misma produciendo diferentes tipos de señales que son recogidas por detectores. Finalmente, la información obtenida en los detectores es transformada para dar lugar a una imagen de alta definición, con una resolución de 0,4 a 20 nanómetros. Como conclusión, obtenemos una imagen de alta resolución de la topografía de la superficie de nuestra muestra.

Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) cuentan con un filamento que genera un haz de electrones que impactan con la muestra. Estos electrones interaccionan con la muestra que se está estudiando y devuelven distintas señales que son interpretadas por distintos detectores. Con esta información somos capaces de obtener información superficial de:

Forma y topografía
Textura
Composición

La interacción del haz de electrones con la superficie de la muestra se realiza en forma de "pera". La penetración dependerá de los kV a los que trabajemos, un estándar es una penetración de 1-5 micras.

Equipamiento

A mediados del mes de octubre se procederá a la instalación de un nuevo equipamiento de microscopía electrónica de emisión de Campo. Las características del equipo son:

Marca y Modelo: ZEISS, FE-SEM GemminiSEM560 de ultra alta resolución con cátodo de emisión de campo tipo Schottky.

Se trata de un sistema con capacidad para llevar a cabo el estudio de los especímenes bajo condiciones controladas de alto vacío en la cámara de muestras. Este equipo incluye también un detector de microanálisis para funcionamiento en bajo voltaje.
Las principales características que incluye este microscopio son:
- Un sistema de detección de rayos-X para bajos voltajes.
- Detectores de electrones secundarios y de electrones retrodispersados, ambos tipos en columna y en cámara de muestras.
- Una cámara de muestras de gran tamaño y multipuerto.
- Precámara para la transferencia rápida de muestras
- Equipamiento auxiliar necesario para su funcionamiento (refrigeración, etc.).

Campo de Aplicación

Con esta técnica podemos estudiar distintos tipos de materiales:

Metales: acero, aluminio, titanio, cobre, metales preciosos, aleaciones.
Cerámicas: vidrio, hormigón, alumina, zirconia, carburo, piedra, porcelana.
Polímeros: termoplásticos como PP, PE, Nylon; termoestables como melamina, polimidas; elastómeros como goma, silicona.
Composites: fibra de carbono, fibra de vidrio, grafito, composites cerámicos, resinas,
Orgánicas: algodón, madera, bacterias, células,

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