FUNDAMENTO
Desde su descubrimiento en 1912 por Von Laue, la difracción de rayos-X ha proporcionado importante información a la ciencia y a la industria. Mucho de lo que se conoce acerca de la disposición en el espacio de los átomos en materiales cristalinos se ha deducido directamente de los estudios de difracción.
Actualmente, el trabajo de difracción de rayos-X es de principal importancia para la elucidación de las estructuras de productos naturales tan complejos como esteroides, vitaminas y antibióticos.
EQUIPAMIENTO
El equipo del que disponemos es: Difractómetro de Rayos X de monocristal D8 VENTURE Dual-source configuration.
El sistema incluye:
- Detector de área Photon III:
- área activa de 10 x 14 cm2.
- Sensibilidad cuántica limitada
- Alta velcidad de registro de los fotogramas (frames).
- Elimina el ruid de reparto de carga que afectaba a los HPADs (Hybrid Pixel Array Detectors)
- Alta sensibilidad para diferentes radiacines (Kα Cu a Kα In)
- N hay parallax. Los puntos de difracción conservan su forma incluso a ángulo elevado.
- Recpilación de datos sin tiempo muerto.
- Goniómetro KAPPA: la geometría abierta del goniómetro de cuatro círculos KAPPA ofrece la máxima libertad de posicionamiento de la muestra para la recopilación de un número casi infinito de observaciones independientes.
- El detectr motorizado se ajusta automáticamente a la distancia óptima entre muestra y detector según dimensión celda unitaria y calidad del cristal.
- Sensres de posición.
- Cámara de video
- Fuente de Rayos X: IµS 3.0 Microfocus Source de Mo y Cu.
- Dispositivo de baja Temperatura: Cryostream 800 (Oxford Cryosystem)
- El software del equipo: APEX3 XPRESSO SADABS SHELXTL: que incluye XPREP, XM, XS, XPS, XSHELL, XL, XP, XPRO, XWAT, XCIF.
CAMPO DE APLICACIÓN
Determinación de estructuras cristalinas de Materiales Monocristalinos en un amplio rango de tamaños, hasta 150 Å de eje de celda en promedio.
Resolución Estructural Completa de una Estructura de Tamaño Medio ( hasta 50 átomos en la Unidad Asimétrica) incluyendo:
· Selección y montaje del cristal.
· Estudios previos de simetría.
· Recogida de datos.
· Resolución estructural.
· Análisis de los resultados.
